Bharat Bhuva, a Vanderbilt Egyetem tanára az egyetlen részecske által kiváltott hatásokról (single-event upsets, SEUs) tartott prezentációjában elmondta, hogy ezek a részecskék a chipmemóriában tárolt adatok egyetlen bitjét megváltoztatva, egyetlen fénykép-pixel módosításától repülőgép-katasztrófáig legkülönfélébb hatásokat válthatnak ki.
SEU akkor történik, amikor az élő organizmusokra egyébként veszélytelen kozmikus sugarak, vagy inkább az általuk generált elektromos töltésű részecskék megzavarják elektronikus eszközökben lévő mikroelektronikus áramkörök működését. Okoztak már komoly károkat, de nagyon ritkán fordulnak elő. Bhuva szerint az új elektronikus rendszerek szaporodásával nő az eszközszintű SEU-összeomlás valószínűsége.
„Nagyon komoly, de a nyilvánosság előtt majdnem láthatatlan probléma” – magyarázza.